LV-1000电感测试系统
	设备规格 被测器件：N-FET / P-FET 器件封装：Single / Dual 测试量程：10V～2,500V 输入电压：AC200V～240V（50Hz/60Hz） 外型尺寸：500(D) x 670(D) x 250(H) 组成方式：控制系统 & 测试站
	项目   型号 JUNO LV-1000   Drain Current（ID）   0.1A～400.0A   Avalanche drain current（IDP）   0.1A～400.0A   Drain voltage（VD）   10V～200.0V   Gate voltage（VG）   1.0V～30.0V   Reverse-bias gate voltage（VGR）   0.0V～30.0V   Voltage Limit （V-GATE）   10.0V～2,500V   IH limit （IH）   0.1A～400.0A   IL limit （IL）   0.1A～400.0A   Gate on time （TG）   0.1～9,999.9μS   Post short detection time（DT）   1～9,999μS   AC Voltage Input   AC200V～240V   RS-232C   通讯端口   Dual-Device   双器件   Multiple Box   选件   Topology   CONTROL_BOX HEAD